крохотный, ничтожно малый.
252.67 кб
Зондово-микроскопические исследования реанимирующих дислокаций на русле залеченной трещины в кристал
Проведены зондово-микроскопические исследования русла залеченной трещины. Показано, что упругая энергия связи реанимирующих дислокаций в кристаллах LiF в 4 раза меньше, чем у обычных.